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                  当前位置:主页 > 科学研究 > 测试中心
                  测试中心简介:
                    
                  “先进材料测试中心”购置的各种大型设备在规划过程中已充分考虑了设备的先进性、学科需求以及已有设备的互补性,涵盖材料制备、结构表征、性能测试三个方向 ,可开展微结构与形貌分析、成分分析、元素分析、表面分析、孔径分析、热分析、铁电、介电等分析测试服务 。该测试平台服务于全校材料相关专业,以及全省的大专院校、科研院所和厂矿企业 ,面向全国开放 ,是一个集材料分析测试、科学研究以及高层次人才培养的重要实验基地和公共服务平台 。测试平台将以科学、可靠、快捷的检测手段和热忱的服务态度,面向社会开展广泛、深入的学术交流与合作,促进大型仪器设备资源共享和跨学科交叉研究,提高仪器设备的使用效益 ,为满足先进材料研究和制造的需求提供高质量的分析测试服务,为地方经济的发展和科学技术水平的提高贡献一份力量 。
                     “先进材料测试中心”所有仪器设备安装于占地面积为320平米的超净室内,常年保持恒定的温度和湿度,满足仪器安装和运行的条件,为测试服务提供良好的环境,特殊仪器配备UPS电源,以防停电给仪器以及测试造成影响。超净室目前拥有等离子体增强原子层沉积系统(PEALD-UltraTech Savannah G2 S200)、透射电子显微镜(JEOL JEM-2100F)、扫描电子显微镜(JEOL JSM-6360LV)、场发射扫描电子显微镜(FEI Apreo HiVac)、X射线衍射分析仪(Bruker D8 Advance)、紫外/可见/近红外分光光度计(Hitachi-UH4150)、傅里叶红外光谱仪(Thermofisher Nicolet iS50)、同步热分析仪(耐驰STA449F5)、全自动比表面和孔径分布分析仪(Quantachrome Autosorb-iQ)、电感耦合等离子体发射光谱仪(PerkinElmer Avio 200)、激光共聚焦显微拉曼光谱仪(Renishaw inVia)、铁电分析仪(德国aixACCT TF Analyzer 3000)、介电阻抗分析仪(NOVOCONTROL BDS50)、四探针仪(Four Dimensions 280SI)等多台具有国际先进水平的大型精密仪器与设备,可以对材料进行系统的分析测试和深入的研究 。具备从先进材料的合成制备、结构表征、性能测试到微纳器件研发的良好条件 ,为创新型人才的培养提供了高水平的科研平台。

                  测试中心仪器使用指南:
                  主页→文件下载→实验预约
                  收费标准及预约申请:http://www.sistalisius.com/html/download/experiment/2019/0420/1180.xml

                   

                  测试中心仪器简介:
                  1.场发射透射电子显微镜(TEM
                  仪器型号:JEM-2100F
                  生产厂家:日本电子(JEOL)
                  功能用途:主要用于分析材料的内部显微结构,可通过HRTEM、STEM、Element mapping和EDX等技术对样品的形貌、晶体结构、化学成分、界面及晶体缺陷等进行微观分析。
                  2.X射线衍射仪(XRD
                  仪器型号:D8 Advance
                  生产厂家:德国Bruker
                  功能用途:主要用于固体物质中各元素之间的结合状态即物相和晶体结构的精确分析,包括各物相的定性、半定量分析、晶系的确定、晶粒大小及畸变等分析 。

                   
                  3.全自动气体吸附分析仪BET
                  仪器型号:Autosorb-iQ
                  生产厂家:美国康塔
                  功能用途:比表面积测定,介孔材料比表面积和孔径分布测定,微孔材料孔径分布测定 。

                   
                  4.场发射扫描电子显微镜(SEM
                  仪器型号:Apreo HiVac
                  生产厂家:美国FEI
                  功能用途:主要用于材料表面、断面形貌观察 。该设备具有双物镜设计及低电压成像技术,对待观察样品(磁性、非磁性、导电、非导电等)无任何限制  ,可以直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构 。高性能X射线能谱仪,可用于微区形貌和成分分析。

                   
                  5.钨灯丝高低真空扫描电镜SEM  
                  仪器型号:JSM-6360LV
                  生产厂家:日本电子(JEOL)
                  功能用途:固体材料表面微观形貌分析及微区表面成分分析。

                   
                   
                  6.同步热分析仪(TGA/DSC          
                  仪器型号:STA 449F5
                  生产厂家:德国耐驰
                  功能用途:主要测试热分解温度,可同步DSC热流测量。可对物质的熔融、结晶、相变、氧化还原、吸附解吸等物理化学变化进行分析。

                   
                  7.紫外/可见/近红外分光光度计
                  仪器型号:UH4150
                  生产厂家:日立(Hitachi)
                  功能用途:可检测块体、薄膜及粉末样品等在185~3300nm范围内的透射率、反射率及吸收曲线 ;可采集液态样品的紫外/可见/近红外吸收曲线 ,用于样品的结构定性分析及成分的定量分析。
                  8.电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-AES
                  仪器型号:Avio 200
                  生产厂家:珀金埃尔默
                  功能用途:主要用于微量元素的分析 ,可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属 。

                   
                  9.傅里叶红外光谱仪
                  仪器型号:Nicolet iS 50
                  生产厂家:美国赛默飞
                  功能用途:用于无机、有机物和高分子等物质的结构及基团的鉴定,分析分子结构和物质种类,研究分子内部及分子之间的相互作用。
                  10.激光共聚焦显微拉曼光谱仪
                  仪器型号:inVia
                  生产厂家:英国Renishaw
                  功能用途:拉曼光谱可反映材料的化学组成、状态、聚合情况以及应用、取向等信息 ,已广泛应用于薄膜、涂料、集成电路、矿物包裹体等的研究 。
                  11.铁电分析仪
                  仪器型号:TF Analyzer 3000
                  生产厂家:aixACCT
                  功能用途:该设备具备铁电、压电、热释电材料所有基本特性测试功能,包括动态电滞回线、静态电滞回线、疲劳测试、保持力测试、印迹测试、漏电流测试、PUND脉冲测试、电容-电压曲线、电流-电压曲线、电流-时间曲线、蝴蝶曲线测试、d33测试、压电系数测试等 。
                  12.介电阻抗分析仪
                  仪器型号:BDS 50
                  生产厂家:德国Novocontrol
                  功能用途:在常温变频条件下 ,精确测量材料的各项介电性能参数 ,如介电常数、介质损耗角正切tanδ、电导率等三十几种参数 。该仪器配备有主动样品架,减少外界对测量结果的影响,提高测量精度 。
                  13.等离子体增强原子层沉积系统
                  仪器型号:Savannah G2 S200
                  生产厂家:美国Ultratech
                  功能用途:可用热法和等离子法制备原子层纳米级薄膜沉积,可以沉积氮化物、氧化物及金属薄膜等。该仪器配备的粉末沉积装置,可在纳米粉末或颗粒上沉积薄膜。
                  14.四探针
                  仪器型号:280SI
                  生产厂家:Four Dimensions
                  功能用途:用于半导体材料电阻率及方块电阻的测试 。